提高减反镀膜效率的强大工具
Total Color F+ 界面容易使用,可简化薄膜测量的管理。轻松执行定期质量检查和统计报告,这有助于减少镀膜工艺安装的时间,使机器保持最佳状态并确保最佳的镀膜质量。
- 容易使用的软件,直接从任何分光光度计读取数据
- 能获取精确的反射及透射的绝对测量值
- 能将绝对测量值转换成色彩空调坐标值,用于准确定义颜色值
- 计算单个膜层的折射率、物理厚度和工具系数
- 通过膜层列表编辑器可修改和建立每个膜层的规格
- 手工模拟膜层
技术规格
系统要求: | 电脑,配微软Windows 7、Windows 10 32/64 位操作系统 RS-232串行接口(兼容UART 16550),用于与Perkin Elemer连接 USB端口,用于与MS-400-C * / MS-400-C UV *连接 CD-ROM光盘驱动器(用于安装) USB端口,用于软件保护硬件密钥 打印机 |
支持的分光光度计 | MS-400-C*、MS-400-C-UV*、Perkin Elmer Lambda 12、20和25 *光纤便携式仪器 |
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