提高减反镀膜效率的强大工具

Total Color F+ 界面容易使用,可简化薄膜测量的管理。轻松执行定期质量检查和统计报告,这有助于减少镀膜工艺安装的时间,使机器保持最佳状态并确保最佳的镀膜质量。

  • 容易使用的软件,直接从任何分光光度计读取数据
  • 能获取精确的反射及透射的绝对测量值
  • 能将绝对测量值转换成色彩空调坐标值,用于准确定义颜色值
  • 计算单个膜层的折射率、物理厚度和工具系数
  • 通过膜层列表编辑器可修改和建立每个膜层的规格
  • 手工模拟膜层

技术规格

系统要求:

电脑,配微软Windows 7、Windows 10 32/64 位操作系统

RS-232串行接口(兼容UART 16550),用于与Perkin Elemer连接

USB端口,用于与MS-400-C * / MS-400-C UV *连接

CD-ROM光盘驱动器(用于安装)

USB端口,用于软件保护硬件密钥

打印机

支持的分光光度计

MS-400-C*、MS-400-C-UV*、Perkin Elmer Lambda 12、20和25

*光纤便携式仪器

所有技术数据如有变更,恕不另行通知。请与Satisloh核实细节。